Développement d'un outil de prédiction du comportement d'un circuit intégré sous impact laser en technologie CMOS

Développement d'un outil de prédiction du comportement d'un circuit intégré sous impact laser en technologie CMOS

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Ce travail porte sur l'analyse et l'étude du comportement de circuits intégrés en technologie CMOS soumis à un impact laser. Une méthodologie d'implémentation d'un impact laser a été développée et améliorée. Ainsi, elle est applicable à n'importe quelle description électriqu...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Godlewski, Catherine
Language:FRE
Published: Université Sciences et Technologies - Bordeaux I 2013
Subjects:
[PHYS:COND:CM_GEN] Physics/Condensed Matter/Other
[PHYS:COND:CM_GEN] Physique/Matière Condensée/Autre
[SPI:OTHER] Engineering Sciences/Other
[SPI:OTHER] Sciences de l'ingénieur/Autre
Interaction laser-silicium
Laser
Modélisation électrique
Flot d'intégration
Méthodologie
Fautes fonctionnelles
Fautes comportementales
Cmos
Prédiction du comportement
Photocourant
Potentiel photoélectrique
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00958998
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/95/89/98/PDF/GODLEWSKI_CATHERINE_2013_CORR.pdf
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