Contribution à l'étude de la fiabilité des technologies avancées en environnement radiatif atmosphérique et spatial par des méthodes optiques
Ce travail présente la mise en œuvre du test par faisceau laser TPA pour l'étude de la sensibilité au phénomène SEB dans les diodes schottky en carbure de silicium. Le contexte de l'étude est décrit par un état de l'art du SEB sur les MOSFETs et Diodes en Silicium et en carbure de sil...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
Université Sciences et Technologies - Bordeaux I
2013
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00947893 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/94/78/93/PDF/MBAYE_NOGAYE_2013.pdf |