Méthodes et outils pour l'analyse tôt dans le flot de conception de la sensibilité aux soft-erreurs des applications et des circuits intégrés
La miniaturisation des gravures des transistors résulte en une augmentation de la sensibilité aux soft-erreurs des circuits intégrés face aux particules énergétiques présentes dans l'environnement dans lequel ils opèrent. Une expérimentation, présentée au cours de cette thèse, concernant l'...
| Main Author: | |
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| Language: | fra |
| Published: |
Université de Grenoble
2012
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00838415 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/87/04/25/PDF/33069_MANSOUR_2012_archivage.pdf |