Conception d'un microscope à force atomique métrologique
Les microscopes en champ proche sont très largement utilisés pour caractériser des propriétés physiques à l'échelle du nanomètre. Afin d'assurer la cohérence des mesures et l'exactitude des résultats mesurés, ces microscopes ont besoin d'être étalonnés périodiquement. Ce raccorde...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
Université de Versailles-Saint Quentin en Yvelines
2010
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| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00830895 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/83/08/95/PDF/Manuscrit.pdf |