Modélisation, caractérisation et analyse de systèmes de PLL intégrés, utilisant une approche globale puce-boîtier-circuit imprimé

Cette thèse porte sur la caractérisation, la modélisation et l'analyse des phénomènes de "Pulling" et de "Pushing" dans les systèmes de boucles à verrouillage de phase (PLL), utilisant une approche globale où les effets de couplages électromagnétiques aux différents niveaux...

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Bibliographic Details
Main Author: Ranaivoniarivo, Manohiaina
Language:fra
Published: Université Paris-Est 2011
Subjects:
Pll
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00779319
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Effets de Pulling et de Pushing
Couplages électromagnétique
Co-simulation puce-boîtier-circuit imprimé
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Modélisation comportementale
Ranaivoniarivo, Manohiaina
Ranaivoniarivo, Manohiaina
Modélisation, caractérisation et analyse de systèmes de PLL intégrés, utilisant une approche globale puce-boîtier-circuit imprimé
description Cette thèse porte sur la caractérisation, la modélisation et l'analyse des phénomènes de "Pulling" et de "Pushing" dans les systèmes de boucles à verrouillage de phase (PLL), utilisant une approche globale où les effets de couplages électromagnétiques aux différents niveaux d'intégration (niveau puce, niveau assemblage, niveau report sur PCB) sont pris en compte de manière distribuée. L'approche de modélisation adopte une méthodologie hybride où l'analyse des couplages électromagnétiques combinée à des schémas équivalents large-bande (compatibles avec les modèles de composants actifs disponibles dans les librairies) est couplée à des représentations comportementales dynamiques. Les représentations comportementales développées permettent de capturer des effets de non-linéarités tant au niveau composant (caractéristique non-linéaire des Varicap en fonction des tensions de contrôle) qu'au niveau block de fonction (gain KVCO non uniforme de l'oscillateur contrôlé en tension (VCO) en fonction de la fréquence).Cette méthodologie hybride permet l'évaluation d'effets compétitifs résultant de phénomènes de "pulling" et de "Pushing" au niveau de la puce (influence de la PLL, effets de l'amplificateur de puissance, intégrité des alimentations ou distribution des références de masse, etc.) , et des distorsions induites par des éléments extérieurs à la puce (exemple de composants sur PCB : Filtre SAW, capacités de découplages, réseaux d'adaptation).L'approche proposée est utilisée pour l'étude et la conception de deux types de circuits développés par NXP-semi-conducteurs pour des applications liées à la sécurité automobile (PLL fonctionnant aux alentours de 1.736GHz) et à la réception satellitaire (PLL de faible consommation fonctionnant à 9.75/10.6 GHz pour les circuits LNB).Les résultats de modélisation obtenus sont validés par corrélations avec les données expérimentales et par comparaison avec les résultats obtenus de différents outils (ADS Harmonic- Balance/Transient de Agilent, Spectre de Cadence
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