FIABILITE DE DIODES LASER DE FORTE PUISSANCE 808 nm MICROASSEMBLEES POUR DES APPLICATIONS SPATIALES : Approche expérimentale et modélisations par éléments finis

Ces travaux de thèse ont pour objectif de proposer une nouvelle technique de caractérisation électro-optique de barrettes de diodes Laser de puissance (DLPs), au niveau émetteur individuel à partir d'un banc dédié, utilisées pour le pompage optique à 808nm de système LIDAR en environnement spat...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Rehioui, Othman
Language:FRE
Published: Université Sciences et Technologies - Bordeaux I 2011
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00674044
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/67/40/44/PDF/Manuscrit_These_Othman_Rehioui_VF.pdf
id ndltd-CCSD-oai-tel.archives-ouvertes.fr-tel-00674044
record_format oai_dc
spelling ndltd-CCSD-oai-tel.archives-ouvertes.fr-tel-006740442013-01-07T17:11:53Z http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00674044 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/67/40/44/PDF/Manuscrit_These_Othman_Rehioui_VF.pdf FIABILITE DE DIODES LASER DE FORTE PUISSANCE 808 nm MICROASSEMBLEES POUR DES APPLICATIONS SPATIALES : Approche expérimentale et modélisations par éléments finis Rehioui, Othman [SPI:TRON] Engineering Sciences/Electronics Optoélectronique diode laser de puissance caractérisation électro-optique degré de polarisation régime QCW simulation fiabilité Ces travaux de thèse ont pour objectif de proposer une nouvelle technique de caractérisation électro-optique de barrettes de diodes Laser de puissance (DLPs), au niveau émetteur individuel à partir d'un banc dédié, utilisées pour le pompage optique à 808nm de système LIDAR en environnement spatial et en régime QCW. Après une étude métrologique fine, ils décrivent une méthodologie de sélection d'un indicateur précoce de défaillance potentielle et sa capacité à estimer la fiabilité de DLPs en conditions opérationnelles (> 109 impulsions à 100Hz/200µs). L'analyse de la dégradation des DLPs se base sur l'identification de signatures paramétriques de défaillance mises en lumière après une série de tests accélérés ciblés et relatives à l'évolution de la puissance optique, du spectre optique (λmax) et du degré de polarisation (DOP) de chaque émetteur de la barrette. Nous montrons également la forte complémentarité entre la mesure du DOP par électroluminescence et par photoluminescence et nous proposons une méthodologie de sélection précoce des émetteurs en considérant leur localisation dans le plan (λmax, DOP). Ces études expérimentales, confortées par des simulations thermiques et mécaniques par éléments finis en introduisant un grand nombre de paramètres technologiques, ont permis de quantifier les niveaux de contraintes résiduelles dans les DLPs en fonction de différentes configurations d'assemblage et d'établir un lien avec leur fiabilité intrinsèque. 2011-06-14 FRE PhD thesis Université Sciences et Technologies - Bordeaux I
collection NDLTD
language FRE
sources NDLTD
topic [SPI:TRON] Engineering Sciences/Electronics
Optoélectronique
diode laser de puissance
caractérisation électro-optique
degré de polarisation
régime QCW
simulation
fiabilité
spellingShingle [SPI:TRON] Engineering Sciences/Electronics
Optoélectronique
diode laser de puissance
caractérisation électro-optique
degré de polarisation
régime QCW
simulation
fiabilité
Rehioui, Othman
FIABILITE DE DIODES LASER DE FORTE PUISSANCE 808 nm MICROASSEMBLEES POUR DES APPLICATIONS SPATIALES : Approche expérimentale et modélisations par éléments finis
description Ces travaux de thèse ont pour objectif de proposer une nouvelle technique de caractérisation électro-optique de barrettes de diodes Laser de puissance (DLPs), au niveau émetteur individuel à partir d'un banc dédié, utilisées pour le pompage optique à 808nm de système LIDAR en environnement spatial et en régime QCW. Après une étude métrologique fine, ils décrivent une méthodologie de sélection d'un indicateur précoce de défaillance potentielle et sa capacité à estimer la fiabilité de DLPs en conditions opérationnelles (> 109 impulsions à 100Hz/200µs). L'analyse de la dégradation des DLPs se base sur l'identification de signatures paramétriques de défaillance mises en lumière après une série de tests accélérés ciblés et relatives à l'évolution de la puissance optique, du spectre optique (λmax) et du degré de polarisation (DOP) de chaque émetteur de la barrette. Nous montrons également la forte complémentarité entre la mesure du DOP par électroluminescence et par photoluminescence et nous proposons une méthodologie de sélection précoce des émetteurs en considérant leur localisation dans le plan (λmax, DOP). Ces études expérimentales, confortées par des simulations thermiques et mécaniques par éléments finis en introduisant un grand nombre de paramètres technologiques, ont permis de quantifier les niveaux de contraintes résiduelles dans les DLPs en fonction de différentes configurations d'assemblage et d'établir un lien avec leur fiabilité intrinsèque.
author Rehioui, Othman
author_facet Rehioui, Othman
author_sort Rehioui, Othman
title FIABILITE DE DIODES LASER DE FORTE PUISSANCE 808 nm MICROASSEMBLEES POUR DES APPLICATIONS SPATIALES : Approche expérimentale et modélisations par éléments finis
title_short FIABILITE DE DIODES LASER DE FORTE PUISSANCE 808 nm MICROASSEMBLEES POUR DES APPLICATIONS SPATIALES : Approche expérimentale et modélisations par éléments finis
title_full FIABILITE DE DIODES LASER DE FORTE PUISSANCE 808 nm MICROASSEMBLEES POUR DES APPLICATIONS SPATIALES : Approche expérimentale et modélisations par éléments finis
title_fullStr FIABILITE DE DIODES LASER DE FORTE PUISSANCE 808 nm MICROASSEMBLEES POUR DES APPLICATIONS SPATIALES : Approche expérimentale et modélisations par éléments finis
title_full_unstemmed FIABILITE DE DIODES LASER DE FORTE PUISSANCE 808 nm MICROASSEMBLEES POUR DES APPLICATIONS SPATIALES : Approche expérimentale et modélisations par éléments finis
title_sort fiabilite de diodes laser de forte puissance 808 nm microassemblees pour des applications spatiales : approche expérimentale et modélisations par éléments finis
publisher Université Sciences et Technologies - Bordeaux I
publishDate 2011
url http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00674044
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/67/40/44/PDF/Manuscrit_These_Othman_Rehioui_VF.pdf
work_keys_str_mv AT rehiouiothman fiabilitedediodeslaserdefortepuissance808nmmicroassembleespourdesapplicationsspatialesapprocheexperimentaleetmodelisationsparelementsfinis
_version_ 1716395421155196928