METHODOLOGIE D'ANALYSE DE DEFAILLANCE POUR L'EVALUATION DE LA FIABILITE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES GaN

METHODOLOGIE D'ANALYSE DE DEFAILLANCE POUR L'EVALUATION DE LA FIABILITE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES GaN

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Ce mémoire s'inscrit dans la construction d'une méthodologie d'analyse de défaillance pour l'évaluation de la fiabilité de diodes électroluminescentes, par une approche basée sur l'analyse physique de dégradation et l'extraction de signatures électriques de défaillance...

Full description

Bibliographic Details
Main Author:	Baillot, Raphaël
Language:	FRE
Published:	Université Sciences et Technologies - Bordeaux I 2011
Subjects:	[SPI:TRON] Engineering Sciences/Electronics GaN-based LED Reliability Silicone oil Solid-State Lighting Polymerization Fluorescence
Online Access:	http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00673985 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/67/39/85/PDF/Manuscrit_de_these_-_R.BAILLOT.pdf

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