METHODOLOGIE D'ANALYSE DE DEFAILLANCE POUR L'EVALUATION DE LA FIABILITE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES GaN
Ce mémoire s'inscrit dans la construction d'une méthodologie d'analyse de défaillance pour l'évaluation de la fiabilité de diodes électroluminescentes, par une approche basée sur l'analyse physique de dégradation et l'extraction de signatures électriques de défaillance...
Main Author: | |
---|---|
Language: | FRE |
Published: |
Université Sciences et Technologies - Bordeaux I
2011
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Subjects: | |
Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00673985 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/67/39/85/PDF/Manuscrit_de_these_-_R.BAILLOT.pdf |
id |
ndltd-CCSD-oai-tel.archives-ouvertes.fr-tel-00673985 |
---|---|
record_format |
oai_dc |
spelling |
ndltd-CCSD-oai-tel.archives-ouvertes.fr-tel-006739852013-01-07T17:11:53Z http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00673985 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/67/39/85/PDF/Manuscrit_de_these_-_R.BAILLOT.pdf METHODOLOGIE D'ANALYSE DE DEFAILLANCE POUR L'EVALUATION DE LA FIABILITE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES GaN Baillot, Raphaël [SPI:TRON] Engineering Sciences/Electronics GaN-based LED Reliability Silicone oil Solid-State Lighting Polymerization Fluorescence Ce mémoire s'inscrit dans la construction d'une méthodologie d'analyse de défaillance pour l'évaluation de la fiabilité de diodes électroluminescentes, par une approche basée sur l'analyse physique de dégradation et l'extraction de signatures électriques de défaillance et optiques pour localiser les zones dégradées. L'ajout d'analyses physico-chimiques réduit le nombre de composants et peut confirmer les mécanismes de dégradation induits par les vieillissements en stockage actif. Un projet, en collaboration avec le CNES, a permis la mise en évidence des zones sensibles de DELs à MPQ InGaN/GaN à faible puissance (30mW) soumises à un vieillissement en conditions opérationnelles (1500h/85°C/Inominal). L'analyse de défaillance de ces DELs a permis d'expliquer une perte de 65% de puissance optique par la modification de la structure moléculaire de l'huile silicone activée photothermiquement induisant une perte de fluorescence de 69% et une très forte diminution de l'absorption de la lumière de la DEL (90%). Nous avons également démontré (projet CEA-LETI - éclairage public) que le même mécanisme est présent dans le mélange gel silicone/phosphore YAG:Ce de DELs blanches à MPQ InGaN/GaN soumises à un vieillissement similaire (85°C/550mA/500h). A 450nm, le rendement de fluorescence a augmenté de 1,2% malgré des pertes en absorption (> 94%) et en réémission de fluorescence (> 85%). La modification de la structure moléculaire du gel a induit une perte de puissance optique des DELs de 45% et une dérive de la couleur blanche vers le jaune (≈ 3,6%). Cette dérive est due à un décalage spectral de la fluorescence de l'UV (5nm) vers le bleu entraînant un décalage vers le rouge (2nm) de la lumière de la DEL. 2011-11-21 FRE PhD thesis Université Sciences et Technologies - Bordeaux I |
collection |
NDLTD |
language |
FRE |
sources |
NDLTD |
topic |
[SPI:TRON] Engineering Sciences/Electronics GaN-based LED Reliability Silicone oil Solid-State Lighting Polymerization Fluorescence |
spellingShingle |
[SPI:TRON] Engineering Sciences/Electronics GaN-based LED Reliability Silicone oil Solid-State Lighting Polymerization Fluorescence Baillot, Raphaël METHODOLOGIE D'ANALYSE DE DEFAILLANCE POUR L'EVALUATION DE LA FIABILITE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES GaN |
description |
Ce mémoire s'inscrit dans la construction d'une méthodologie d'analyse de défaillance pour l'évaluation de la fiabilité de diodes électroluminescentes, par une approche basée sur l'analyse physique de dégradation et l'extraction de signatures électriques de défaillance et optiques pour localiser les zones dégradées. L'ajout d'analyses physico-chimiques réduit le nombre de composants et peut confirmer les mécanismes de dégradation induits par les vieillissements en stockage actif. Un projet, en collaboration avec le CNES, a permis la mise en évidence des zones sensibles de DELs à MPQ InGaN/GaN à faible puissance (30mW) soumises à un vieillissement en conditions opérationnelles (1500h/85°C/Inominal). L'analyse de défaillance de ces DELs a permis d'expliquer une perte de 65% de puissance optique par la modification de la structure moléculaire de l'huile silicone activée photothermiquement induisant une perte de fluorescence de 69% et une très forte diminution de l'absorption de la lumière de la DEL (90%). Nous avons également démontré (projet CEA-LETI - éclairage public) que le même mécanisme est présent dans le mélange gel silicone/phosphore YAG:Ce de DELs blanches à MPQ InGaN/GaN soumises à un vieillissement similaire (85°C/550mA/500h). A 450nm, le rendement de fluorescence a augmenté de 1,2% malgré des pertes en absorption (> 94%) et en réémission de fluorescence (> 85%). La modification de la structure moléculaire du gel a induit une perte de puissance optique des DELs de 45% et une dérive de la couleur blanche vers le jaune (≈ 3,6%). Cette dérive est due à un décalage spectral de la fluorescence de l'UV (5nm) vers le bleu entraînant un décalage vers le rouge (2nm) de la lumière de la DEL. |
author |
Baillot, Raphaël |
author_facet |
Baillot, Raphaël |
author_sort |
Baillot, Raphaël |
title |
METHODOLOGIE D'ANALYSE DE DEFAILLANCE POUR L'EVALUATION DE LA FIABILITE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES GaN |
title_short |
METHODOLOGIE D'ANALYSE DE DEFAILLANCE POUR L'EVALUATION DE LA FIABILITE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES GaN |
title_full |
METHODOLOGIE D'ANALYSE DE DEFAILLANCE POUR L'EVALUATION DE LA FIABILITE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES GaN |
title_fullStr |
METHODOLOGIE D'ANALYSE DE DEFAILLANCE POUR L'EVALUATION DE LA FIABILITE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES GaN |
title_full_unstemmed |
METHODOLOGIE D'ANALYSE DE DEFAILLANCE POUR L'EVALUATION DE LA FIABILITE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES GaN |
title_sort |
methodologie d'analyse de defaillance pour l'evaluation de la fiabilite de diodes electroluminescentes gan |
publisher |
Université Sciences et Technologies - Bordeaux I |
publishDate |
2011 |
url |
http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00673985 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/67/39/85/PDF/Manuscrit_de_these_-_R.BAILLOT.pdf |
work_keys_str_mv |
AT baillotraphael methodologiedanalysededefaillancepourlevaluationdelafiabilitedediodeselectroluminescentesgan |
_version_ |
1716395420856352768 |