Optimisation du test de production de circuits analogiques et RF par des techniques de modélisation statistique
La part dû au test dans le coût de conception et de fabrication des circuits intégrés ne cesse de croître, d'où la nécessité d'optimiser cette étape devenue incontournable. Dans cette thèse, de nouvelles méthodes d'ordonnancement et de réduction du nombre de tests à effectuer sont pro...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
Université de Grenoble
2011
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00669605 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/66/96/05/PDF/otp_0352.pdf |