Optimisation du test de production de circuits analogiques et RF par des techniques de modélisation statistique

• Main Author: Akkouche, N.
• Language: FRE
• Published: Université de Grenoble 2011
• Subjects: [SPI:NANO] Engineering Sciences/Micro and nanotechnologies/Microelectronics; circuit analogique et RF; test fonctionnel; fautes paramétriques; modélisation statistique; métriques de test; algorithme de recherche
• Online Access: http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00669605; http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/66/96/05/PDF/otp_0352.pdf

La part dû au test dans le coût de conception et de fabrication des circuits intégrés ne cesse de croître, d'où la nécessité d'optimiser cette étape devenue incontournable. Dans cette thèse, de nouvelles méthodes d'ordonnancement et de réduction du nombre de tests à effectuer sont proposées. La solution est un ordre des tests permettant de détecter au plus tôt les circuits défectueux, qui pourra aussi être utilisé pour éliminer les tests redondants. Ces méthodes de test sont basées sur la modélisation statistique du circuit sous test. Cette modélisation inclus plusieurs modèles paramétriques et non paramétrique permettant de s'adapté à tous les types de circuit. Une fois le modèle validé, les méthodes de test proposées génèrent un grand échantillon contenant des circuits défectueux. Ces derniers permettent une meilleure estimation des métriques de test, en particulier le taux de défauts. Sur la base de cette erreur, un ordonnancement des tests est construit en maximisant la détection des circuits défectueux au plus tôt. Avec peu de tests, la méthode de sélection et d'évaluation est utilisée pour obtenir l'ordre optimal des tests. Toutefois, avec des circuits contenant un grand nombre de tests, des heuristiques comme la méthode de décomposition, les algorithmes génétiques ou les méthodes de la recherche flottante sont utilisées pour approcher la solution optimale.