Méthodologie d'estimation des métriques de test appliquée à une nouvelle technique de BIST de convertisseur SIGMA / DELTA
L'expansion du marché des semi-conducteurs dans tous les secteurs d'activité résulte de la capacité de créer de nouvelles applications grâce à l'intégration de plus en plus de fonctionnalités sur une surface de plus en plus faible. Pour chaque entreprise, la compétitivité dépend du co...
| Main Author: | |
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| Language: | fra |
| Published: |
Université de Grenoble
2011
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00633056 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/68/05/04/PDF/4917_DUBOIS_2011_archivage_1_.pdf |