Pour une approche complète de l'évaluation de fiabilité dans les microsystèmes

Pour une approche complète de l'évaluation de fiabilité dans les microsystèmes

La complexité des microsystèmes, leur multidisciplinarité, l'hétérogénéité des matériaux utilisés et les interfaces avec l'environnement extérieur rendent difficiles l'évaluation et la maîtrise de leur fiabilité indispensables pour l'exploitation des nombreuses possibilités innov...

Full description

Bibliographic Details
Main Author:	Matmat, Mohamed
Language:	FRE
Published:	INSA de Toulouse 2010
Subjects:	[SPI:NANO] Engineering Sciences/Micro and nanotechnologies/Microelectronics MEMS Fiabilité prédictive Modélisation analytique Modélisation aux éléments finis Micro-actionneur électrothermique Micro-commutateur RF Actionnement électrostatique Chargement diélectrique Prototypage virtuel (Matlab & Saber)
Online Access:	http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00538717 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/53/87/17/PDF/ThA_se_MATMAT_Mohamed.pdf

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