Étude de propriétés électroniques de nanostructures par microscopie à force atomique sous ultra-vide
Cette thèse est consacrée à l'étude des propriétés électroniques de nanostructures par microscopie à force atomique (AFM) en ultra-vide. La première partie de ce travail a consisté à caractériser localement des nanofils de silicium par technique d'AFM conducteur. Les expériences de conduct...
| Main Author: | |
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| Language: | ENG |
| Published: |
Université des Sciences et Technologie de Lille - Lille I
2009
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| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00466670 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/46/66/70/PDF/LBorowik.pdf |