Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits critiques en vitesse
Cette thèse propose une extension des méthodes classiques de chemins de «scan». On utilise des opérateurs combinatoires plus généraux à la place des multiplexeurs à une seule sortie. Ils peuvent comporter des entrées et des sorties multiples. Ils peuvent boucler sur eux-mêmes par l'intermédiair...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
1994
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00344980 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/34/49/80/PDF/Bulone.Joseph_1994_these.pdf |