Le test haute résolution de circuits imprimés nus
La présente thèse traite du test des circuits imprimes nus en général et plus particulièrement de leur test électrique. L'apparition de la technologie de montage en surface, qui représenté aujourd'hui plus de 50% de la production électronique mondiale contre 10% en 1984, pose le probleme d...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
1993
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00343737 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/34/37/37/PDF/Vaucher.Christophe_1993_these.pdf |