HSURF : un microprocesseur facilement testable pour des applications à haute sûreté de fonctionnement

• Main Author: Jay, Christian
• Language: FRE
• Published: 1986
• Subjects: [SPI:NANO] Engineering Sciences/Micro and nanotechnologies/Microelectronics; Microprocesseur; Test; En ligne; Circuit intégré; Fiabilité; Observabilité; Circuit VLSI; Application industrielle
• Online Access: http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00320452; http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/32/04/52/PDF/Jay.Christian_1986_these.pdf

Partant d'un jeu d'instructions spécifique à l'application (domaine des automatismes logiques), on propose une architecture permettant d'exécuter ledit jeu d'instructions et disposant de facilités de test en fin de conception et au cours de la vie du circuit. L'observabilité et la contrôlabilité du composant représentent une partie importante de l'étude. Après examen critique de plusieurs méthodes permettant de faciliter le test (en ligne et hors ligne) du circuit, un choix est réalisé afin d'intégrer dans l'architecture de ce dernier les dispositifs nécessaires à la mise en œuvre de certaines d'entre elles