Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques

Après avoir situé le problème du test des circuits intégrés, une méthode de test phasée sur une description fonctionnelle du circuit est décrite. le système de test développé en collaboration avec ESD est présente ainsi qu'un outil de description de signaux.

Bibliographic Details
Main Author:	Sadier, Sylvain
Language:	FRE
Published:	1983
Subjects:	[INFO:INFO_MO] Computer Science/Modeling and Simulation test méthode de test outil de test microprocesseurs circuits périphériques automates niveau de description graphe
Online Access:	http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00307439 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/30/74/39/PDF/Sadier.Sylvain_1983_these.pdf

id	ndltd-CCSD-oai-tel.archives-ouvertes.fr-tel-00307439
record_format	oai_dc
spelling	ndltd-CCSD-oai-tel.archives-ouvertes.fr-tel-003074392013-01-07T18:32:50Z http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00307439 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/30/74/39/PDF/Sadier.Sylvain_1983_these.pdf Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques Sadier, Sylvain [INFO:INFO_MO] Computer Science/Modeling and Simulation test méthode de test outil de test microprocesseurs circuits périphériques automates niveau de description graphe Après avoir situé le problème du test des circuits intégrés, une méthode de test phasée sur une description fonctionnelle du circuit est décrite. le système de test développé en collaboration avec ESD est présente ainsi qu'un outil de description de signaux. 1983-12-07 FRE PhD thesis
collection	NDLTD
language	FRE
sources	NDLTD
topic	[INFO:INFO_MO] Computer Science/Modeling and Simulation test méthode de test outil de test microprocesseurs circuits périphériques automates niveau de description graphe
spellingShingle	[INFO:INFO_MO] Computer Science/Modeling and Simulation test méthode de test outil de test microprocesseurs circuits périphériques automates niveau de description graphe Sadier, Sylvain Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques
description	Après avoir situé le problème du test des circuits intégrés, une méthode de test phasée sur une description fonctionnelle du circuit est décrite. le système de test développé en collaboration avec ESD est présente ainsi qu'un outil de description de signaux.
author	Sadier, Sylvain
author_facet	Sadier, Sylvain
author_sort	Sadier, Sylvain
title	Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques
title_short	Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques
title_full	Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques
title_fullStr	Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques
title_full_unstemmed	Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques
title_sort	méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques
publishDate	1983
url	http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00307439 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/30/74/39/PDF/Sadier.Sylvain_1983_these.pdf
work_keys_str_mv	AT sadiersylvain methodesetoutilsdetestpourmicroprocesseursetcircuitsperipheriques
_version_	1716452831793250304

Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques

Similar Items