Analyse statistique de l 'impact des variations locales sur les courses de signaux dans une mémoire SRAM embarquée
Parallèlement à l'accroissement de la part dévolue à la mémoire au sein des circuits, l'évolution technologique s'accompagne d'uneaugmentation de la variabilité des performances, notamment dues aux variations de procédés de fabrication, de la tension d'alimentation et de la...
Main Author: | Yap San Min, Michael |
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Language: | English |
Published: |
Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc
2008
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Subjects: | |
Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00246549 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/24/65/49/PDF/these_YAP.pdf |
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