Analyse statistique de l 'impact des variations locales sur les courses de signaux dans une mémoire SRAM embarquée

Parallèlement à l'accroissement de la part dévolue à la mémoire au sein des circuits, l'évolution technologique s'accompagne d'uneaugmentation de la variabilité des performances, notamment dues aux variations de procédés de fabrication, de la tension d'alimentation et de la...

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Bibliographic Details
Main Author: Yap San Min, Michael
Language:English
Published: Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc 2008
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00246549
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/24/65/49/PDF/these_YAP.pdf

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