Analyse statistique de l 'impact des variations locales sur les courses de signaux dans une mémoire SRAM embarquée

• Main Author: Yap San Min, Michael
• Language: English
• Published: Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc 2008
• Subjects: [SPI:NANO] Engineering Sciences/Micro and nanotechnologies/Microelectronics; [SPI:NANO] Sciences de l'ingénieur/Micro et nanotechnologies/Microélectronique; Analyse statistique; Course de signaux; Marge de lecture; SRAM; Variabilité
• Online Access: http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00246549; http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/24/65/49/PDF/these_YAP.pdf

Parallèlement à l'accroissement de la part dévolue à la mémoire au sein des circuits, l'évolution technologique s'accompagne d'uneaugmentation de la variabilité des performances, notamment dues aux variations de procédés de fabrication, de la tension d'alimentation et de la température. En terme de conception, ces variations de procédés de fabrication et de conditions de fonctionnement sont généralement prises en compte en adoptant une approche pire et meilleur cas(méthode des corners). Cependant, l'accroissement de la variabilité des procédés de fabrication conduit à l'accroissement relatif de la fourchette d'estimation des performances, comme la marge temporelle de lecture dans une mémoire embarquée de type SRAM. Ainsi la seule alternative, permettant de s'affranchir de la méthode des corners, réside dans l'adoption de techniques statistiqueset notamment l'analyse statistique des performances temporelle. Cette analyse statistique des performances des SRAMs constitue le cœur de cette thèse. Dans un premier temps, nous avons démontré les limites de la méthode des corners sur la marge temporelle de lecture de la SRAM. Puis, nous avons développé une approche de modélisation permettant de s'affranchir de la méthode des corners. Cette approche a ensuite été utilisée dans le dimensionnement statistique de la mémoire afin d'optimiser ses performances temporelles, réduisant ainsi lamarge excessive de lecture introduite par l'approche traditionnelle.