Piégeage d'ions très chargés pour la mesure de durée de vie d'états métastables.

• Main Author: Attia, Dina
• Language: FRE
• Published: Université Pierre et Marie Curie - Paris VI 2007
• Subjects: [PHYS:PHYS:PHYS_ATOM-PH] Physics/Physics/Atomic Physics; Source ECR; Ions très chargés; Piège à ions; Durée de Vie; Physique atomique
• Online Access: http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00194354; http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/19/43/54/PDF/TheseFinal_TEL.pdf; http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/19/43/54/ANNEX/THESE_2007.ppt

L'objectif de ma thèse a été la mise en œuvre d'un nouveau dispositif expérimental couplant la source ECR SIMPA à un nouveau type de piège électrostatique. Différentes applications sont possibles. Tout d'abord, la source ECR SIMPA produit des ions dans des états métastables avec des temps de vie de l'ordre de la dizaine de milliseconde. Notre dispositif expérimental permet de mesurer les durées de vie de transitions (M1) des états métastables de l'Ar9+,de l'Ar13+ et de l'Ar14+. Ceci nous permet de tester les théories du problème relativiste à n corps. D'autre part, le piégeage des ions multichargés permet de mesurer des sections efficaces pertinentes pour l'astrophysique (Vents solaires, Nébuleuses planétaires) et les plasmas peu denses. En effet, il est ainsi possible de mesurer les sections efficaces de capture d'électron des ions multichargés, mais aussi les sections efficaces de diffusion ion-ion, ou ion-particule neutre.