PROPRIETES DE TRANSPORT DE MICROSTRUCTURES ET NANOSTRUCTURES DE SILICIUM.

L'étude porte sur le transport, électronique et de spin, dans des microstructures et nanostructures à base de silicium, le matériau phare de l'industrie microélectronique.<br />Nous avons étudié un procédé de lithographie assistée par microscope à force atomique (AFM) pour fabriquer...

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Main Author: Rochdi, Nabil
Language:FRE
Published: Université de la Méditerranée - Aix-Marseille II 2007
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Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00192856
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/19/28/56/PDF/Nabil_ROCHDI_PhD_manuscript.pdf
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collection NDLTD
language FRE
sources NDLTD
topic [PHYS:COND] Physics/Condensed Matter
Nanofils de silicium
lithographie AFM
états d'interface
injection/collecte du spin
précession du spin
champ magnétique
jonctions FMIS
jonctions MSS
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Nanofils de silicium
lithographie AFM
états d'interface
injection/collecte du spin
précession du spin
champ magnétique
jonctions FMIS
jonctions MSS
Rochdi, Nabil
PROPRIETES DE TRANSPORT DE MICROSTRUCTURES ET NANOSTRUCTURES DE SILICIUM.
description L'étude porte sur le transport, électronique et de spin, dans des microstructures et nanostructures à base de silicium, le matériau phare de l'industrie microélectronique.<br />Nous avons étudié un procédé de lithographie assistée par microscope à force atomique (AFM) pour fabriquer des nanofils sub-100-nm ultraminces (8 à 15 nm) de silicium, connectés à une structure de test sur silicium sur isolant (SOI). Les mesures électriques ont mis en évidence le comportement de transistor à effet de champ (FET) des nanocircuits. Le piégeage des électrons aux défauts d'interfaces et de l'oxyde, est la cause de la déplétion cumulative des fils ultraminces au cours des mesures successives I(V). Le dépiégeage peut être contrôlé par application d'une tension sur la grille du nanofil. Les fils ont ainsi révélé un effet mémoire (écriture/lecture par piégeage/dépiégeage sous tension de grille positive/négative).<br />Nous avons par ailleurs étudié le transport du spin dans un canal de silicium. L'étude théorique a souligné la possibilité d'utiliser un faible champ magnétique pour manipuler le spin en obtenant des longueurs de précession et de diffusion de spin micrométriques, compatibles avec la technologie actuelle. L'injection et la collecte électriques ont été réalisées dans un dispositif mémoire magnétique intégrée sur silicium (MEMIS), similaire à un SpinFET. Néanmoins, la qualité des jonctions hybrides métal ferromagnétique/isolant/silicium (FMIS) conditionnent l'efficacité d'injection et de collecte du spin et de l'effet de magnétorésistance ; dans ce sens, nous avons exploré quelques techniques d'élaboration de jonctions Co/AlO/Si et Co/MgO/Si avec des oxydes minces de l'ordre du nanomètre. Nous avons obtenu des jonctions FMIS avec une injection électrique par tunnel direct, ce qui présente une piste prometteuse pour l'injection cohérente du spin. Nous avons également caractérisé des jonctions redresseur semiconducteur ferromagnétique /semiconducteur (MSS) du type Ge3Mn5/Ge qui se sont avérées très intéressantes pour l'injection du spin.
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publisher Université de la Méditerranée - Aix-Marseille II
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