Etude par microscopie électronique STEM des joints de grains dans les céramiques électroniques : application aux cas des varistances à base de ZnO et des diélectriques BaTiO3-LiF

L'étude de la microstructure de varistances à base d'oxyde de zinc et de diélectriques à base de titanate de baryum en présence de LiF a été réalisée par microscopie électronique STEM sur des échantillons amincis après traitement thermique. Une attention particulière a été portée à la stru...

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Main Author: Poupard-Potin, Annick
Language:FRE
Published: Université Sciences et Technologies - Bordeaux I 1986
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00182709
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/18/27/09/PDF/T8602.pdf
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collection NDLTD
language FRE
sources NDLTD
topic [CHIM:MATE] Chemical Sciences/Material chemistry
Microscopie électronique balayage transmission
Joint grain
Frittage
Varistance
Zinc Oxyde
Céramique diélectrique
Baryum Titanate
Lithium Fluorure
Céramique électronique
Microstructure
Propriété physique
Propriété électrique
Céramique oxyde
Additif
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Frittage
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Zinc Oxyde
Céramique diélectrique
Baryum Titanate
Lithium Fluorure
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Microstructure
Propriété physique
Propriété électrique
Céramique oxyde
Additif
Poupard-Potin, Annick
Etude par microscopie électronique STEM des joints de grains dans les céramiques électroniques : application aux cas des varistances à base de ZnO et des diélectriques BaTiO3-LiF
description L'étude de la microstructure de varistances à base d'oxyde de zinc et de diélectriques à base de titanate de baryum en présence de LiF a été réalisée par microscopie électronique STEM sur des échantillons amincis après traitement thermique. Une attention particulière a été portée à la structure des joints de grains, aux phases intergranulaires et aux couches de ségrégation. Cette étude a permis d'une part de corréler les microstructures et les propriétés électriques et d'autre part de préciser le mécanisme de frittage de ces céramiques.
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