Test et LSI

Test et LSI

La motivation de ce travail est la détection des pannes matérielles pouvant se produire à l'intérieur d'une unité centrale (UC) intégrée (microprocesseur). Certaines des différentes étapes de la méthodologie dépassant ce cadre (pouvant être utilisées avec profit pour d'autres problème...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Courtois, Beranrd
Language:FRE
Published: 1981
Subjects:
[SPI:NANO] Engineering Sciences/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
LSI
test
conception circuits intégrés
microprocesseur
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00010674
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/05/11/89/PDF/tel-00010674.pdf
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Courtois, Beranrd
Test et LSI
description La motivation de ce travail est la détection des pannes matérielles pouvant se produire à l'intérieur d'une unité centrale (UC) intégrée (microprocesseur). Certaines des différentes étapes de la méthodologie dépassant ce cadre (pouvant être utilisées avec profit pour d'autres problèmes de test que celui du test d'une UC) mais étant tournées vers des problèmes de tests, le caractère intégré étant une constante des circuits étudiés, le titre de ce document situe ledit travail dans un cadre plus vaste, brièvement résumé par : Test et LSI
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