Test et LSI
La motivation de ce travail est la détection des pannes matérielles pouvant se produire à l'intérieur d'une unité centrale (UC) intégrée (microprocesseur). Certaines des différentes étapes de la méthodologie dépassant ce cadre (pouvant être utilisées avec profit pour d'autres problème...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
1981
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00010674 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/05/11/89/PDF/tel-00010674.pdf |
| Summary: | La motivation de ce travail est la détection des pannes matérielles pouvant se produire à l'intérieur d'une unité centrale (UC) intégrée (microprocesseur). Certaines des différentes étapes de la méthodologie dépassant ce cadre (pouvant être utilisées avec profit pour d'autres problèmes de test que celui du test d'une UC) mais étant tournées vers des problèmes de tests, le caractère intégré étant une constante des circuits étudiés, le titre de ce document situe ledit travail dans un cadre plus vaste, brièvement résumé par : Test et LSI |
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