Technologie FeRAM : fiabilité et mécanismes de défaillance de condensateurs ferroélectriques élémentaires et intégrés
Le développement industriel de la technologie FeRAM (assurant non volatilité, accès rapide et faible consommation) est aujourd'hui limité par la fiabilité du condensateur ferroélectrique intégré. Le travail de thèse, axé sur la compréhension de ses modes de défaillance, a consisté à associer de...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
Université du Sud Toulon Var
2004
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| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00008576 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/04/77/74/PDF/tel-00008576.pdf |