Modelagem de Defeitos em Circuitos Integrados na Perspectiva do Leiaute
<span>O aumento da densidade de transistores em circuitos integrados (CIs), em virtude dos avanços da tecnologia de fabricação, tornaram os procedimentos de testes de CIs mais complexos ao passo que quanto maior a densidade, menor é o espaçamento entre os componentes e suas conexões, aumentand...
| Main Authors: | , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | Portuguese |
| Published: |
Editora IFPB
2016-12-01
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| Series: | Revista Principia |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://periodicos.ifpb.edu.br/index.php/principia/article/view/1060 |