Protección contra la corrosión de electrorrecubrimientos níquel/cobre utilizando la técnica PRC
Se presenta la implementación de la técnica de corriente pulsante inversa para electrodepositar películas delgadas de Cu-Ni en forma de bicapa sobre sustratos de zamac, controlando los voltajes y tiempos de electrodepósitos anódicos (Vlow, TLow) y catódicos (VHight, THight) y obteniendo como r...
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Universidad Pedagógica y Tecnológica de Colombia
2010-12-01
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doaj-9138a561dc8b4d93bd4f41ddea0442e62020-11-24T22:15:51ZengUniversidad Pedagógica y Tecnológica de ColombiaRevista Facultad de Ingeniería0121-11292357-53282010-12-0118261366Protección contra la corrosión de electrorrecubrimientos níquel/cobre utilizando la técnica PRCWilliam Aperador, Dionisio Laverde, Enrique Vera y Javier GuerreroSe presenta la implementación de la técnica de corriente pulsante inversa para electrodepositar películas delgadas de Cu-Ni en forma de bicapa sobre sustratos de zamac, controlando los voltajes y tiempos de electrodepósitos anódicos (Vlow, TLow) y catódicos (VHight, THight) y obteniendo como respuesta el monitoreo de la corriente anódica (ILow) y catódica (IHight) en función del tiempo anódico (TLow) y catódico (THight) respectivamente. Se obtuvieron películas de Cu (electrolitos cianurados) y Ni (electroli tos ácidos) con espesores entre 18 y 62 micrómetros. Se observó, mediante microscopía de fuerza atómica (AFM), que el control pulsante del voltaje durante el depósito permite obtener películas de Cu/Ni más densas y de mejor granulometría que las películas convencionales depositadas por la técnica de corriente directa. Se determinó la composición química de las capas usando la sonda de difracción de rayos X (EDX); además, se realizaron medidas de brillo y microdureza vickers de la<br />última capa, correspondiente al níquel.http://revistas.uptc.edu.co/revistas/index.php/ingenieria/article/view/1377 |
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Se presenta la implementación de la técnica de corriente pulsante inversa para electrodepositar películas delgadas de Cu-Ni en forma de bicapa sobre sustratos de zamac, controlando los voltajes y tiempos de electrodepósitos anódicos (Vlow, TLow) y catódicos (VHight, THight) y obteniendo como respuesta el monitoreo de la corriente anódica (ILow) y catódica (IHight) en función del tiempo anódico (TLow) y catódico (THight) respectivamente. Se obtuvieron películas de Cu (electrolitos cianurados) y Ni (electroli tos ácidos) con espesores entre 18 y 62 micrómetros. Se observó, mediante microscopía de fuerza atómica (AFM), que el control pulsante del voltaje durante el depósito permite obtener películas de Cu/Ni más densas y de mejor granulometría que las películas convencionales depositadas por la técnica de corriente directa. Se determinó la composición química de las capas usando la sonda de difracción de rayos X (EDX); además, se realizaron medidas de brillo y microdureza vickers de la<br />última capa, correspondiente al níquel. |
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