ВСТРОЕННАЯ АППАРАТУРА НЕРАЗРУШАЮЩЕГО САМОТЕСТИРОВАНИЯ ДЛЯ СХЕМ ОЗУ НА ОСНОВЕ ЛОКАЛЬНО-СИММЕТРИЧНЫХ ТЕСТОВ
Дается сравнительный анализ нескольких схем встроенной аппаратуры самотестирования оперативных запоминающих устройств (ВАСТ ОЗУ). Рассмотренные ВАСТ ОЗУ отличаются сложностью реализуемых тестов, количеством использованных сигнатурных анализаторов и количеством обнаруживаемых неисправностей. Предлага...
| Format: | Article |
|---|---|
| Language: | Russian |
| Published: |
The United Institute of Informatics Problems of the National Academy of Sciences of Belarus
2019-01-01
|
| Series: | Informatika |
| Online Access: | https://inf.grid.by/jour/article/view/796 |