اصلاح سطح پلیمرها با پلاسما
به‌طور کلی، مهندسی سطح پلیمرها در علوم زیست‌شناسی، غشاها، سطوح خودپاک‌کن و ابزار الکترونیکی استفاده می‌شود. تغییر در انرژی سطحی، توپوگرافی سطح و زیست‌سازگاری پلیمر از جمله خواصی است که می‌توان آن‌ها را با اصلاح سطح به‌طور کنترل‌شده تغییر داد. برای انتخاب روش مناسب اصلاح سطح یک پلیمر باید سه عامل درن...
| Main Authors: | , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | fas |
| Published: |
Iran Polymer & Petrochemical Institute
2019-08-01
|
| Series: | Baspārish |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://basparesh.ippi.ac.ir/article_1630_af6fe50da384069ce34292b5a63d451a.pdf |
| id |
doaj-7e1f7175af974384a8e76c683fcd38e1 |
|---|---|
| record_format |
Article |
| spelling |
doaj-7e1f7175af974384a8e76c683fcd38e12021-09-08T06:17:50ZfasIran Polymer & Petrochemical InstituteBaspārish2252-04492538-54452019-08-0192273710.22063/basparesh.2019.2389.14481630اصلاح سطح پلیمرها با پلاسمامسعود نعمت الهی0میترا توکلی1عباس بهجت2دانشجو کارشناسی ارشد دانشگاه یزدعضو هیات علمیعضو هیئت علمیبه‌طور کلی، مهندسی سطح پلیمرها در علوم زیست‌شناسی، غشاها، سطوح خودپاک‌کن و ابزار الکترونیکی استفاده می‌شود. تغییر در انرژی سطحی، توپوگرافی سطح و زیست‌سازگاری پلیمر از جمله خواصی است که می‌توان آن‌ها را با اصلاح سطح به‌طور کنترل‌شده تغییر داد. برای انتخاب روش مناسب اصلاح سطح یک پلیمر باید سه عامل درنظر گرفته شود. این عوامل عبارت‌اند از: ساختار شیمیایی پلیمر که بیانگر نقاط ضعف و قوت آن است، خواص سطحی مدنظر و در آخر هندسه سطح که مربوط به وجود یا عدم وجود تخلخل یا ناهم‌گونی‌های فیزیکی و شیمیایی روی سطح پلیمر است. روش‌های معمول شامل روش شیمی مرطوب، شعله، پلاسما، لیزر، تابش فرابنفش و پیوندزنی است. این پژوهش در راستای بررسی اصلاح سطح پلیمرها به کمک پلاسماست. همچنین، برای درک مناسبی از تجزیه و تحلیل کمی و کیفی تغییرات خواص سطحی ماده، مشخصات عمومی (عمق نفوذ، بزرگ‌نمایی، حساسیت تجزیه و هزینه) روش‌های استفاده شده به‌اختصار مرور شده است. از مهم‌ترین روش‌های ارزیابی مقدار اصلاح سطح می‌توان به تجزیه طیف‌سنجی زیرقرمز تبدیل فوریه (FTIR)، میکروسکوپی الکترونی پویشی (SEM)، میکروسکوپی نیروی اتمی (AFM)، اندازه‌گیری زاویه تماس، طیف‌شناسی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)، طیف‌سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)، طیف‌شناسی الکترونی آگار (AES) و میکروسکوپی تونل‌زنی پیمایشی (STM) اشاره کرد.http://basparesh.ippi.ac.ir/article_1630_af6fe50da384069ce34292b5a63d451a.pdfاصلاح سطحتجزیه و تحلیل سطحتوپوگرافیپلاسماشناسایی |
| collection |
DOAJ |
| language |
fas |
| format |
Article |
| sources |
DOAJ |
| author |
مسعود نعمت الهی میترا توکلی عباس بهجت |
| spellingShingle |
مسعود نعمت الهی میترا توکلی عباس بهجت اصلاح سطح پلیمرها با پلاسما Baspārish اصلاح سطح تجزیه و تحلیل سطح توپوگرافی پلاسما شناسایی |
| author_facet |
مسعود نعمت الهی میترا توکلی عباس بهجت |
| author_sort |
مسعود نعمت الهی |
| title |
اصلاح سطح پلیمرها با پلاسما |
| title_short |
اصلاح سطح پلیمرها با پلاسما |
| title_full |
اصلاح سطح پلیمرها با پلاسما |
| title_fullStr |
اصلاح سطح پلیمرها با پلاسما |
| title_full_unstemmed |
اصلاح سطح پلیمرها با پلاسما |
| title_sort |
اصلاح سطح پلیمرها با پلاسما |
| publisher |
Iran Polymer & Petrochemical Institute |
| series |
Baspārish |
| issn |
2252-0449 2538-5445 |
| publishDate |
2019-08-01 |
| description |
به‌طور کلی، مهندسی سطح پلیمرها در علوم زیست‌شناسی، غشاها، سطوح خودپاک‌کن و ابزار الکترونیکی استفاده می‌شود. تغییر در انرژی سطحی، توپوگرافی سطح و زیست‌سازگاری پلیمر از جمله خواصی است که می‌توان آن‌ها را با اصلاح سطح به‌طور کنترل‌شده تغییر داد. برای انتخاب روش مناسب اصلاح سطح یک پلیمر باید سه عامل درنظر گرفته شود. این عوامل عبارت‌اند از: ساختار شیمیایی پلیمر که بیانگر نقاط ضعف و قوت آن است، خواص سطحی مدنظر و در آخر هندسه سطح که مربوط به وجود یا عدم وجود تخلخل یا ناهم‌گونی‌های فیزیکی و شیمیایی روی سطح پلیمر است. روش‌های معمول شامل روش شیمی مرطوب، شعله، پلاسما، لیزر، تابش فرابنفش و پیوندزنی است. این پژوهش در راستای بررسی اصلاح سطح پلیمرها به کمک پلاسماست. همچنین، برای درک مناسبی از تجزیه و تحلیل کمی و کیفی تغییرات خواص سطحی ماده، مشخصات عمومی (عمق نفوذ، بزرگ‌نمایی، حساسیت تجزیه و هزینه) روش‌های استفاده شده به‌اختصار مرور شده است. از مهم‌ترین روش‌های ارزیابی مقدار اصلاح سطح می‌توان به تجزیه طیف‌سنجی زیرقرمز تبدیل فوریه (FTIR)، میکروسکوپی الکترونی پویشی (SEM)، میکروسکوپی نیروی اتمی (AFM)، اندازه‌گیری زاویه تماس، طیف‌شناسی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)، طیف‌سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)، طیف‌شناسی الکترونی آگار (AES) و میکروسکوپی تونل‌زنی پیمایشی (STM) اشاره کرد. |
| topic |
اصلاح سطح تجزیه و تحلیل سطح توپوگرافی پلاسما شناسایی |
| url |
http://basparesh.ippi.ac.ir/article_1630_af6fe50da384069ce34292b5a63d451a.pdf |
| work_keys_str_mv |
AT msʿwdnʿmtạlhy ạṣlạḥsṭḥplymrhạbạplạsmạ AT mytrạtwḵly ạṣlạḥsṭḥplymrhạbạplạsmạ AT ʿbạsbhjt ạṣlạḥsṭḥplymrhạbạplạsmạ |
| _version_ |
1717762708288307200 |