Sılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleri

Silar metodu kullanılarak 70 °C’de cam alttabanlar üzerine polikristal Cu2O ince filmleri elde edildi. XRD analizleri filmlerin kübik yapıda olduğunu gösterdi ve örgü parametreleri hesaplandı. Filmlerin yüzey morfolojisi alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu (FE-SEM) ile görüntülendi. Filmleri...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Doğan ÖZASLAN, Mustafa GÜNEŞ, Cebrail GÜMÜŞ
Format: Article
Language:English
Published: Pamukkale University 2017-12-01
Series:Pamukkale University Journal of Engineering Sciences
Subjects:
Online Access:https://dergipark.org.tr/tr/pub/pajes/issue/33120/377669?publisher=pamukkale
id doaj-58d2d637b76a4d9ea87a46f0bc6adc82
record_format Article
spelling doaj-58d2d637b76a4d9ea87a46f0bc6adc822020-11-25T02:02:37ZengPamukkale UniversityPamukkale University Journal of Engineering Sciences1300-70092147-58812017-12-01237854857218Sılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleriDoğan ÖZASLANMustafa GÜNEŞCebrail GÜMÜŞSilar metodu kullanılarak 70 °C’de cam alttabanlar üzerine polikristal Cu2O ince filmleri elde edildi. XRD analizleri filmlerin kübik yapıda olduğunu gösterdi ve örgü parametreleri hesaplandı. Filmlerin yüzey morfolojisi alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu (FE-SEM) ile görüntülendi. Filmlerin optik özelliklerini belirlemek için UV/vis spektrofotometresi kullanılmıştır. Filmlerin oda sıcaklığındaki optik geçirgenlik (% T) değerleri 300-1100 nm dalga boyu aralığında belirlenmiştir. Yarıiletken Cu2O ince filmlerinin görünür bölgedeki optik geçirgenlik değerleri %50-70 olarak bulunmuştur. Filmlerin enerji bant aralığı değerleri (Eg) 2.53-2.62 eV bulundu.https://dergipark.org.tr/tr/pub/pajes/issue/33120/377669?publisher=pamukkalesilar methodthin filmcu2ophysical propertiessilar metodui̇nce filmcu2ofiziksel özellikler
collection DOAJ
language English
format Article
sources DOAJ
author Doğan ÖZASLAN
Mustafa GÜNEŞ
Cebrail GÜMÜŞ
spellingShingle Doğan ÖZASLAN
Mustafa GÜNEŞ
Cebrail GÜMÜŞ
Sılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleri
Pamukkale University Journal of Engineering Sciences
silar method
thin film
cu2o
physical properties
silar metodu
i̇nce film
cu2o
fiziksel özellikler
author_facet Doğan ÖZASLAN
Mustafa GÜNEŞ
Cebrail GÜMÜŞ
author_sort Doğan ÖZASLAN
title Sılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleri
title_short Sılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleri
title_full Sılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleri
title_fullStr Sılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleri
title_full_unstemmed Sılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleri
title_sort sılar metodu ile hazırlanan cu2o ince filmlerin fiziksel özellikleri
publisher Pamukkale University
series Pamukkale University Journal of Engineering Sciences
issn 1300-7009
2147-5881
publishDate 2017-12-01
description Silar metodu kullanılarak 70 °C’de cam alttabanlar üzerine polikristal Cu2O ince filmleri elde edildi. XRD analizleri filmlerin kübik yapıda olduğunu gösterdi ve örgü parametreleri hesaplandı. Filmlerin yüzey morfolojisi alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu (FE-SEM) ile görüntülendi. Filmlerin optik özelliklerini belirlemek için UV/vis spektrofotometresi kullanılmıştır. Filmlerin oda sıcaklığındaki optik geçirgenlik (% T) değerleri 300-1100 nm dalga boyu aralığında belirlenmiştir. Yarıiletken Cu2O ince filmlerinin görünür bölgedeki optik geçirgenlik değerleri %50-70 olarak bulunmuştur. Filmlerin enerji bant aralığı değerleri (Eg) 2.53-2.62 eV bulundu.
topic silar method
thin film
cu2o
physical properties
silar metodu
i̇nce film
cu2o
fiziksel özellikler
url https://dergipark.org.tr/tr/pub/pajes/issue/33120/377669?publisher=pamukkale
work_keys_str_mv AT doganozaslan sılarmetoduilehazırlanancu2oincefilmlerinfizikselozellikleri
AT mustafagunes sılarmetoduilehazırlanancu2oincefilmlerinfizikselozellikleri
AT cebrailgumus sılarmetoduilehazırlanancu2oincefilmlerinfizikselozellikleri
_version_ 1724951790461386752