Progrès récents dans l'étude de catalyseurs par microscopie électronique Recent Progress in Catalyst Studies by Electron Microscopy

Progrès récents dans l'étude de catalyseurs par microscopie électronique Recent Progress in Catalyst Studies by Electron Microscopy

Les techniques de visualisation des supports et des particules métalliques en microscopie conventionnelle à haute résolution sont précisées. On discute l'apport des principales méthodes de microanalyse en microscopie à balayage (STEM), c'est-à-dire analyse par émission X, microdiffraction...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Lynch J.
Format: Article
Language:English
Published: EDP Sciences 2006-11-01
Series:Oil & Gas Science and Technology
Online Access:http://dx.doi.org/10.2516/ogst:1985005
id doaj-5792353583e84640a08cfba30731d51e
record_format Article
spelling doaj-5792353583e84640a08cfba30731d51e2021-02-02T05:26:12ZengEDP SciencesOil & Gas Science and Technology1294-44751953-81892006-11-01401637610.2516/ogst:1985005Progrès récents dans l'étude de catalyseurs par microscopie électronique Recent Progress in Catalyst Studies by Electron MicroscopyLynch J.Les techniques de visualisation des supports et des particules métalliques en microscopie conventionnelle à haute résolution sont précisées. On discute l'apport des principales méthodes de microanalyse en microscopie à balayage (STEM), c'est-à-dire analyse par émission X, microdiffraction et spectroscopie de pertes d'énergie, aussi bien que de la combinaison électronique des images. On examine les améliorations techniques qui sont à attendre à moyen terme. <br> Available imaging techniques for supports and small metal particles in conventional electron microscopy are presented. The advantages of the methods of microanalysis in the scanning transmission electron microscope (STEM) are discussed. These include X-ray emission analysis, microdiffraction and electron energy loss spectroscopy as well as the electronic mixing of images. Improvements to be expected in these techniques in the near future are considered. http://dx.doi.org/10.2516/ogst:1985005
collection DOAJ
language English
format Article
sources DOAJ
author Lynch J.
spellingShingle Lynch J.
Progrès récents dans l'étude de catalyseurs par microscopie électronique Recent Progress in Catalyst Studies by Electron Microscopy
Oil & Gas Science and Technology
author_facet Lynch J.
author_sort Lynch J.
title Progrès récents dans l'étude de catalyseurs par microscopie électronique Recent Progress in Catalyst Studies by Electron Microscopy
title_short Progrès récents dans l'étude de catalyseurs par microscopie électronique Recent Progress in Catalyst Studies by Electron Microscopy
title_full Progrès récents dans l'étude de catalyseurs par microscopie électronique Recent Progress in Catalyst Studies by Electron Microscopy
title_fullStr Progrès récents dans l'étude de catalyseurs par microscopie électronique Recent Progress in Catalyst Studies by Electron Microscopy
title_full_unstemmed Progrès récents dans l'étude de catalyseurs par microscopie électronique Recent Progress in Catalyst Studies by Electron Microscopy
title_sort progrès récents dans l'étude de catalyseurs par microscopie électronique recent progress in catalyst studies by electron microscopy
publisher EDP Sciences
series Oil & Gas Science and Technology
issn 1294-4475
1953-8189
publishDate 2006-11-01
description Les techniques de visualisation des supports et des particules métalliques en microscopie conventionnelle à haute résolution sont précisées. On discute l'apport des principales méthodes de microanalyse en microscopie à balayage (STEM), c'est-à-dire analyse par émission X, microdiffraction et spectroscopie de pertes d'énergie, aussi bien que de la combinaison électronique des images. On examine les améliorations techniques qui sont à attendre à moyen terme. <br> Available imaging techniques for supports and small metal particles in conventional electron microscopy are presented. The advantages of the methods of microanalysis in the scanning transmission electron microscope (STEM) are discussed. These include X-ray emission analysis, microdiffraction and electron energy loss spectroscopy as well as the electronic mixing of images. Improvements to be expected in these techniques in the near future are considered.
url http://dx.doi.org/10.2516/ogst:1985005
work_keys_str_mv AT lynchj progresrecentsdansletudedecatalyseursparmicroscopieelectroniquerecentprogressincatalyststudiesbyelectronmicroscopy
_version_ 1724303683289612288

Similar Items