Línea de Transmisión de Impulsos (TLP): Correlación con los Modelos de Descarga Electrostática (ESD)

<p class="Textonormal">Existen varios modelos que intentan describir el  daño que causa un evento de descarga electrostática –ESD- sobre un circuito integrado –CI-. El ensayo llamado Línea de Transmisión de Impulsos –TLP-, resulta en particular muy utilizado para este tipo de medicio...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Julio Guillermo Zola, Gonzalo Andrés Pacheco
Format: Article
Language:Spanish
Published: Instituto Superior Politécnico José Antonio Echeverría (CUJAE) 2012-12-01
Series:Revista Ingeniería Electrónica, Automática y Comunicaciones
Online Access:http://rielac.cujae.edu.cu/index.php/rieac/article/view/136

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