Línea de Transmisión de Impulsos (TLP): Correlación con los Modelos de Descarga Electrostática (ESD)
<p class="Textonormal">Existen varios modelos que intentan describir el daño que causa un evento de descarga electrostática –ESD- sobre un circuito integrado –CI-. El ensayo llamado Línea de Transmisión de Impulsos –TLP-, resulta en particular muy utilizado para este tipo de medicio...
| Main Authors: | , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | Spanish |
| Published: |
Instituto Superior Politécnico José Antonio Echeverría (CUJAE)
2012-12-01
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| Series: | Revista Ingeniería Electrónica, Automática y Comunicaciones |
| Online Access: | http://rielac.cujae.edu.cu/index.php/rieac/article/view/136 |