| Summary: | <p class="Textonormal">Existen varios modelos que intentan describir el daño que causa un evento de descarga electrostática –ESD- sobre un circuito integrado –CI-. El ensayo llamado Línea de Transmisión de Impulsos –TLP-, resulta en particular muy utilizado para este tipo de mediciones, por lo que necesita asimismo mantener una correlación con los distintos modelos referenciados en diversos estándares, que amplíen la validez de sus resultados, Se analiza en este trabajo la búsqueda de una correlación aproximada, mediante medición y simulación con PSpice para utilizar los resultados mediante TLP, prediciendo la respuesta del dispositivo bajo prueba –DUT- ante diferentes formas de onda ESD como las indicadas en los estándares.</p>
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