ESTUDIO ELIPSOMÉTRICO DE PELÍCULAS SEMITRANSPARENTES DE PLATA DEPOSITADAS SOBRE VIDRIO
Uti lizando elipsometría , se caracteriza l a estructura de la película mediante los índices ópticos n, k (región visible, 450 nm < < 580 nm) y el espesor ( 15 < d < 35 nm). Los índices ópticos varían con la cantidad de plata depositada obteniéndose para los menores depósitos índices e...
| Main Authors: | , , , |
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| Format: | Article |
| Language: | Spanish |
| Published: |
Executive Business School
2014-01-01
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| Series: | Avances en Ciencias e Ingeniería |
| Online Access: | http://www.redalyc.org/articulo.oa?id=323632812006 |