ESTUDIO ELIPSOMÉTRICO DE PELÍCULAS SEMITRANSPARENTES DE PLATA DEPOSITADAS SOBRE VIDRIO

• Main Authors: Víctor Toranzos, Jorge O. Zerbino, Alberto Maltz, Guillermo Ortiz
• Format: Article
• Language: Spanish
• Published: Executive Business School 2014-01-01
• Series: Avances en Ciencias e Ingeniería
• Online Access: http://www.redalyc.org/articulo.oa?id=323632812006

Uti lizando elipsometría , se caracteriza l a estructura de la película mediante los índices ópticos n, k (región visible, 450 nm <  < 580 nm) y el espesor ( 15 < d < 35 nm). Los índices ópticos varían con la cantidad de plata depositada obteniéndose para los menores depósitos índices efectivos 1.0 < n < 1.8 y 1.6 < k < 2.6 que corresponden, de acuerdo a los modelos utilizados, a una fracción volumétrica entre 0.35 y 0.5 d e plata en aire. Al aumentar la fracción volumétrica de plata se observa primeramente una disminución del espesor óptico efectivo de la película y para mayor cantidad de plata depositada se observa un aumento del espe sor con índices que tienden a valores má s p róximos a los de la plata maciza . Se comparan los índices ópticos obtenidos con los que se obtienen mediante las teorías de medio efectivo.