Prácticas educativas de los padres y problemas de ajuste en estudiantes universitarios

Este estudio tiene como objetivo analizar las relaciones entre el afecto/rechazo y los tipos de disciplina que muestran tanto el padre como la madre y los problemas internalizantes y externalizantes que informan los estudiantes universitarios. Se aplicaron la Escala de Afecto «EA» y la Escala de Nor...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Mª de la Villa Carpio Fernández, María Cruz García Linares, Pedro Félix Casanova Arias, María Teresa Cerezo Rusillo
Format: Article
Language:Spanish
Published: Asociación Nacional de Psicología Evolutiva y Educativa de la Infancia Adolescencia Mayores y Discapacidad 2017-10-01
Series:INFAD
Subjects:
Online Access:http://www.infad.eu/RevistaINFAD/OJS/index.php/IJODAEP/article/view/931
Description
Summary:Este estudio tiene como objetivo analizar las relaciones entre el afecto/rechazo y los tipos de disciplina que muestran tanto el padre como la madre y los problemas internalizantes y externalizantes que informan los estudiantes universitarios. Se aplicaron la Escala de Afecto «EA» y la Escala de Normas y Exigencias «ENE» (Fuentes, Motrico y Bersabé, 1999; Bersabé, Fuentes y Motrico, 2001) en su versión para hijos (EA-H y ENEH), así como el Youth Self- Report (Achenbach (1991) mediante la propuesta de Ivanova et al., (2007) quienes agrupan los ítems en ocho síndromes. Cinco de estas ocho categorías se agrupan en dos dimensiones más amplias: problemas internalizantes (ansioso/depresivo, introvertido/depresivo y quejas somáticas) y problemas externalizantes (infringir las normas y conducta agresiva). Los resultados indican que tanto el afecto como la disciplina inductiva de los padres constituyen prácticas positivas que correlacionan negativamente con algunos de los problemas analizados. Por el contrario, las prácticas negativas, tales como el rechazo y la disciplina rígida tanto del padre como de la madre, se relacionan positivamente con la mayoría de los problemas analizados.
ISSN:0214-9877
2603-5987