Öğretmenlerin ölçme ve değerlendirme alanı yeterliklerinin yargıcı kararlarına dayalı ölçeklenmesi [Scaling primary school teachers’ competence based on judgmental decisions in the field of measurement and evaluation]

• Main Authors: Recep Serkan ARIK, Ömer KUTLU
• Format: Article
• Language: English
• Published: Eğitim Bilimleri Araştırmaları Dergisi 2013-10-01
• Series: Eğitim Bilimleri Araştırmaları Dergisi
• Subjects: Öğretmen yeterlikleri; Ölçme ve değerlendirme; Ölçekleme; Delphi tekniği
• Online Access: http://ebad-jesr.com/images/MAKALE_ARSIV/C3_S2makaleler/3.2.10.pdf

Bu çalışmanın amacı, okul eğitiminde gereksinim duyulan ölçme ve değerlendirme alanı öğretmen yeterliklerinin belirlenmesi, Delphi tekniği ile belirlenen yeterlik alanlarının yargıcı kararlarına dayalı olarak ölçeklenmesidir. Bu bağlamda üç oturum halinde uygulanan Delphi paneli uygulamalarından elde edilen nitel ve nicel veriler, ölçekleme yaklaşımlarından ikili karşılaştırma ve sıralama yargılarıyla, ölçeklemeden elde edilen bulgular ilişkilendirilerek yorumlanmıştır. Çalışma Ankara ilinde merkez ilçelerden dokuz ilköğretim okulunda ölçme ve değerlendirme konusunda tecrübe sahibi olan 300 öğretmen üzerinde gerçekleşmiştir. Çalışmada gerekli verilerin toplanmasında “iyi bir öğretmende olması gereken ölçme ve değerlendirme alan yeterlikleri nelerdir?” açık uçlu sorusuna verilen yanıtlar ve bunlarla oluşturulan yargıcı kararlarına dayalı ölçekleme formu kullanılmıştır. Elde edilen verilerin analizinde Thurstone V. Hal denklemi kullanılmıştır. En yüksek ölçek değerine sahip üç yeterlik ile en az ölçek değerine sahip üç ölçek değerlerinin kendi içlerinde birbirine yakın olduğu bulunmuştur. İkili karşılaştırma ile ölçeklemede ikinci ve üçüncü Delphi uygulamasında “Bilişsel, duyuşsal ve psikomotor alanda ölçme araçları hazırlar, teknolojik araç ve gereçleri ölçme ve değerlendirme yaparken kullanır ve Farklı soru formatları kullanma” yeterlikleri daha önemli olarak belirlenmiştir. Sıralama yargılarıyla ölçeklemede, “Performansa, projeye ve portfolyaya dayalı ölçmeler yapar, Öğrencinin öz değerlendirme ve akran değerlendirme yapmasına olanak tanır, Teknolojik araç ve gereçleri ölçme ve değerlendirme yaparken kullanma” yeterlik alanlarını öğretmenler önemli görmektedirler. Delphi uygulamaları arasında hem ikili karşılaştırma hem de sıralama ile ölçeklemede yüksek düzeyde ilişki (r=0.99, p<.05) olması dikkat çeken bulgular arasındadır. Bu yüksek ilişki Delphi tekniğinde uzlaşının olduğunun göstergesidir. İkili karşılaştırma ile sıralama yargılarıyla ölçekleme arasında ilişkinin olmaması önemli bir bulgu olarak bu araştırmada yer almıştır.