Прогнозування параметричної надійності радіоелектронної апаратури при двосторонньому обмеженні дрейфу визначального параметра

• Main Authors: Юрій Ярославович Бобало, Андрій Петрович Бондарєв, Леонід Аврамович Недоступ, Мирослав Дмитрович Кіселичник, Павло Михайлович Заярнюк
• Format: Article
• Language: English
• Published: PC Technology Center 2015-05-01
• Series: Tehnologìčnij Audit ta Rezervi Virobnictva
• Subjects: parametric reliability; reliability analysis; shimmer failure; runs; drift of deterministic parameter
• Online Access: http://journals.uran.ua/tarp/article/view/42366
• ISSN: 2226-3780; 2312-8372

Запропоновано метод прогнозування параметричної надійності радіоелектронної апаратури при двосторонньому обмеженні дрейфу визначального параметра. В статті наведено аналітичні і графічні залежності для визначення параметрів викидів випадкового процесу зміни визначального параметра радіоелектронної апаратури за допусковий рівень, розроблені на основі теорії викидів.