Showing 1 - 4 results of 4 for search 'BATISTA, Jerias Alves', query time: 0.06s Refine Results
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    Detecção de defeitos em estruturas semicondutoras através da microscopia fototérmica de reflexão : a interferência optotérmica e o aumento de contraste
    by Batista, Jerias Alves
    Published 2001
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  2. 2
    Microscopia fototérmica de reflexão aplicada à caracterização de dispositivos microeletrônicos
    by Batista, Jerias Alves
    Published 1996
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  3. 3
    EFEITOS DA ABERRAÇÃO CROMÁTICA LONGITUDINAL E DA TEMPERATURA SOBRE O ESPALHAMENTO RAMAN CONFOCAL DE GRAFENO
    by Leite, Girlane Castro Costa
    Published 2016
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  4. 4
    ESTUDO DE ÉXCITONS ESCUROS EM NANOTUBOS DE CARBONO USANDO DOPAGEM: uma abordagem via fotoluminescência
    by Rodrigues, Célio Diniz
    Published 2016
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