超高真空下における半導体界面構造の形成と薄膜成長に対する顕微鏡的評価

by 酒井, 朗, Sakai, Akira
Published 1996

単一電子トラップ直視技術の開発とそれを用いた極薄ゲート絶縁膜の劣化機構の解明

by 近藤, 博基, 安田, 幸夫, 財満, 鎭明, 酒井, 朗, 池田, 浩也
Published 2005

電子注入ストレスを加えたゲート酸化膜の電流検出型原子間力顕微鏡による解析

by 世古, 明義, 渡辺, 行彦, 近藤, 博基, 酒井, 朗, 財満, 鎭明, 安田, 幸夫
Published 2004